技术参数


粒径检测   测量范围:50 - 2000 nm

                     准确度:    回收率100% ±6%



电位检测   测量范围:0 - ±100 mV

                     准确度:    ±3 mV

技术特点

粒径 | 媲美电镜的粒径测量精度

NanoCoulter™ 测量混合标准微球等多分散样本的平均粒径与粒径分布,结果与电镜数据完全吻合。

电位 | 单颗粒Zeta电位测量


Zeta电位是表征分散体系稳定性的重要指标。在恒定电场下,颗粒移动速度与Zeta电位的**值呈正相关。 NanoCoulter™测量单个颗粒通过纳米孔的时间从而获得电位数据,因此是当前**可分析单颗粒Zeta电位、粒径及二者相互关系的技术平台。

 纳米库尔特技术原理


纳米库尔特技术原理--电阻脉冲(RPS)


在电解质溶液中,NanoCoulter™  N-Chip芯片纳米孔的两侧设有正负电极,电流通过时,在小孔周围形成“电感应区”。当每个颗粒通过小孔时,会分别置换出等体积的导电溶液,导致该区域电阻短暂增加,形成瞬时电阻脉冲。脉冲幅度与颗粒粒径成正比,数量与颗粒浓度成正比。由于颗粒是逐个通过并独立分析的,因此实现了真正意义上的单颗粒检测。

电位检测原理(电泳法)



当颗粒仅受到电场力作用时,其电泳迁移速度与带电量即Zeta电位成正比。在外加电场的作用下,带电颗粒向相反电荷的电极移动,移动速度与Zeta电位的大小相关。